多機能イオンビームミルLeica EM RES 101

サンプル調製

透過描写電気と走査電子顕微鏡サンプルの製造に適しており、実験室に2台の異なる機器を設置する必要がなく、結果としてコストを節約する。

LAN互換性

LANを通じて、ユーザーは外部を通じてサンプル処理過程を操作し監視することができ、ユーザーに極めて大きな柔軟性と利便性を提供する。

液体窒素冷凍システム

オプションのLN 2冷却システムは、Cu生地の専用のサンプル台を使用して、サンプルが本当に冷却されることを確保して、熱に敏感なサンプルに対してサンプル処理を行う時に仮定の発生がなくて、TEMとSEMサンプル処理に適用して、異なる種類のサンプル処理の方法をもっと柔軟に変化させる。

全自動多機能イオンビーム研磨システム、イオン薄化（TEM用）を行うことができる、イオンビーム研磨、イオンエッチング、サンプルイオン洗浄及びランプ切断（SEM用）等

イオンビームエネルギー1 keV 10 keV、2本のイオン銃はそれぞれ±45°傾斜することができて、サンプル台の傾斜角度-120°から210°まで、イオンビーム加工角度0°から90°まで、サンプル平面の揺動角度<360°、垂直揺動距離±5 mm

収容可能最大サンプルサイズ：直径25 mm、高さ12 mm

オプションの供試体台：TEM供試体台（Ø3.0 mmまたはØ2.3 mm）、FIB供試体洗浄台、SEM供試体台、ランプ切断供試体台（供試体に対して35°または90°ランプ切断）および対応する冷凍供試体台

全無油真空システム、試料室には予備抽出室があり、試料交換時間<1分を保証する

全コンピュータ制御、タッチスクリーン操作インターフェース、ビデオ観察システムを内蔵し、リアルタイムでサンプルの出てくる過程を観察することができる