スペクトル範囲FUVからNIR：190〜2100 nm

UVISEL Plusだ円偏光分光計薄膜、表面、界面特性評価のためにモジュール化と性能の最適な組み合わせを提供した。

UVISEL Plusは1つのモデルとして精度、感度、安定性の古典的な偏光解析モデルPEM位相変調技術を採用し、機械回転部品技術に比べて、より良い安定性と信号対雑音比を提供することができる。スペクトル範囲は190 nmから2100 nmである。

UVISEL Plusは新しいFastAcqを統合しているTM迅速な収集技術、3分以内に高分解能サンプル試験（190〜2100 nm）を実現できる、キャリブレーションには数分しかかかりません。新しい電子機器、データ処理、高速モノクロメータに基づいて、FastAcq技術はユーザーに高分解能と高速なデータ収集を提供することができる。FastAcqは薄膜特性化設計であり、ふくへんちょうぎじゅつ優れたテスト結果を確実に得ることができます。

位相変調技術の特徴は高周波変調50 kHzで、信号収集過程に移動部品がない：

• 全範囲の偏光解析角度を測定し、Ψ (0-90)，Δ (0-360)
• FUVからNIRへの優れた信号対雑音比
• データ収集速度が速く、50ミリ秒/点に達し、動力学研究とオンライン測定の理想的な選択である

採用に比べて回転素子変調のための従来の楕円偏光分光計，UVISEL Plusの位相変調モード薄膜を特性化する上でより高い感度と精度を持つ。他の偏光解析器では観測できない極薄膜や界面を検出できるだけでなく、50µmの厚膜を特徴づけることもできる。

バック反射をテストしている透明サンプルの場合、テストは簡単で正確で、花の裏側を剃る必要はありません。

UVISEL Plusには、さまざまなアクセサリやオプション機能も設計されており、お客様がアプリケーションのニーズや予算に応じて適切な配置を選択できるようになっています。例えば、微小スポットはパターンサンプル、自動角変換器、自動サンプルテーブルなどに用いられる。

UVISEL Plusはモジュラー設計を採用し、柔軟に拡張することができる。オフラインで使用可能卓上測定また、メッキ装置に結合してオンラインモニタリングを行うこともできる。

UVISEL Plusは、習慣に合わせて操作インタフェースを選択することができます。1つは、DeltaPsi2モデリングとフィッティング処理機能があり、もう1つは、Auto-Softユーザーがガイドする全自動サンプルテストインタフェースで、ワークフローが直感的で、非専門家が操作しやすい。

UVISEL Plus搭載FastAcq技術は、材料研究と加工、平板表示、マイクロ電子と光起電力の分野で好ましい汎用スペクトル型偏光解析器。

UVISEL Plus材料科学研究の理想的なツールである。