上海サイドス精密計器計器有限公司
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WKL-702顆粒画像分析計(国産顕微鏡1を配置)
WKL-702顆粒画像分析計(国産顕微鏡1を配置)
製品の詳細
紹介

WKL-702ペレット画像解析装置(構成1 国産顕微鏡)

WKL-702粒子画像分析器は伝統的な顕微測定方法と現代画像技術を結合し、画像法を用いて粒子形態分析と力度測定を行う粒子分析システムであり、光学顕微鏡、デジタルCCDカメラと粒子画像処理分析ソフトウェアからなる。このシステムは専用のビーズカメラを通じて顕微鏡の粒子画像を撮影してコンピュータに転送し、専用の粒子画像分析ソフトウェアを通じて画像を分析処理し、直観、イメージ、正確さとテスト範囲が広いなどの特徴がある。粒子の形態を観察することができ、粒子分布などの分析結果を得ることもできる。

構成パラメータ(構成1国産顕微鏡)

三眼生物顕微鏡:平場接眼鏡:10X16X

色消し対物レンズ:4X10X40X100X(油)

合計倍率:40X1600X

カメラ:300万画素数CCD(標準Cインタフェースレンズ)適用範囲

研磨剤、塗料、非金属鉱、化学試薬、粉塵、充填剤などの各種粉末粒子の粒度測定に適している。形態観察と分析。

ソフトウェア機能とレポート出力フォーマット

1.画像に対して複数の処理を行うことができます:例えば:画像の増強、画像の重ね合わせ、局所抽出、方向性拡大、コントラスト、輝度調整などの数十種類の機能

2.丸み、曲線、周長、面積、直径など数十種類の幾何学パラメータを有する基本測定

3.粒子の粒径の粒径面積、形状などの多種類のパラメータに直接基づいて、線形あるいは非線形統計方式で分布図を描くことができる

主な技術パラメータ

WKL-702(構成1 国産顕微鏡)

測定範囲

1~3000ミクロン

最大光学増幅倍率

1600倍数

最大解像度

0.1ミクロン/ピクセル

精度誤差

<±3%(国家物質基準)

くりかえしへんさ

<±3%(国家物質基準)

データ出力

周長分布、面積分布、長ガドリン分布、短径分布、周長相当径分布、面積相当径分布、feret径分布、長短径比、中間(D50)、有効粒径(D10)、粒径を限定する(D60D30D97)、個数長平均径、個数面積平均径、個数体積平均径、長さ面積平均径、長さ体積平均径、面積体積平均径、不平均係数、曲率係数。

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