浙江朗通精密機器有限公司
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蔡司Xradia 410 Versa
試験室による非壊滅的サブミクロン光学顕微鏡の差を埋めるXradia 410 Versaは、性能の優れたX線光学顕微鏡と作用の弱い電子計算機断層スキャナ(CT)システムソフトウェアの差を埋める。Xradia 410 Versaは、領域*の優れた解像度、彩度、原点の役割を持つ非壊滅的な3次元画像を提示し
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