浙江朗通精密機器有限公司
>製品>ゼイス Xradia 810 Ultra
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ゼイス Xradia 810 Ultra
利点実験室で得られる最高解像度-低〜50ナノメートルの3 DX線イメージング非破壊3 DX線イメージングにより、ミクロ構造の発展吸収とZernike位相コントラストイメージングの各種材料を直接観察するために、同じ試料を繰り返しイメージングすることができ、低Z、炭酸塩から頁岩、組織から生物力学へ-ナノ
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