用途：
GMDIC-100微分干渉工業検査けんびきょうワーク表面の組織構造と幾何学的形態を顕微鏡観察するのに適している。優れた無限遠光学系とモジュール化機能育児計の理念を採用し、システムをアップグレードしやすく、偏光観察、DIC観察などの機能を実現でき、ガイドポスト昇降装置は、テーブルと対物レンズの間の距離を迅速に調整でき、円筒ローラーガイド伝動を採用し、機構昇降が安定している。製品は精密部品、集積回路、包装材料などの製品検査に適している。
顕微イメージングシステムの概要：
GMDIC-100 Pコンピュータ型微分干渉コントラスト金相顕微鏡GMDIC-100 Sデジタル型微分干渉位相コントラスト金相顕微鏡撮像観察（CCDコネクタ、デジタルカメラコネクタ、デジタル一眼レフカメラコネクタなど）を配置することで、高精細なデジタル撮影と撮像観察方式を実現することができる。イメージングシステムは光電変換を通じてコンピュータ、デジタルカメラ、テレビなどの機器と結合し、接眼レンズ上にはっきりとした顕微鏡像を観察することができるだけでなく、表示画面上でリアルタイムの動的ハイビジョン画像を観察することができ、コンピュータ、デジタルカメラ上で必要な画像を編集、保存、印刷することもできる。
機器の特徴：
l製品は無限遠光学イメージングシステムを採用し、5 X、10 X、20 Xの長作動距離平場消色差無応力対物レンズを選択し、対応する微分干渉プラグ（DICプラグ）と整合して異なる倍率の顕微観察を行うことができる。
l照明システムは高輝度、長稼働時間のLEDデバイスを採用し、構造がコンパクトで、使用安全などの特徴があり、特にオンライン検査の環境要求に適している。
l柱式高さ調整方式を採用し、試料の厚さ範囲を観察する。
機械式ステージ：
ベース外形寸法：300 mm*25 mm二重機械移動ステージ外形寸法：180 mm*145 mm、移動範囲：35 mm*30 mm
照明システム：
高輝度白色LEDランプの同軸照明を採用し、輝度を調整することができる。外付けワイド電圧電源アダプタ、入力電圧85 V～265 V、50/60 Hz。照明システムには、360度回転可能な偏光子が設置されている。
観察システム：
双眼または撮影観察を選択することができ、双眼鏡筒は30度傾斜しており、10 X、15 X、20 X平場接眼鏡に適合することができ、撮影出力ポートは0.5 X、1 X撮影適合鏡に適合することができる。
微分干渉コンポーネント：
微分干渉モジュールプラグ（DICプラグ）と適合対物レンズは干渉平面の高さを補正し、特に調整する必要はなく、ユーザーが干渉色の変化を使用するのに便利で、精密ワイヤロッドの回転調整によって変更することができる。
標準構成：
l平場接眼レンズ：10 X/視野数φ18 mm
l接眼レンズインタフェース直径：φ23.2 mm
l合焦距離：10 mm
l応力平場消色差対物レンズ：PL 10 X/0.25動作距離：20.2 mm
l総増幅倍率：100倍
l機械筒長：無限遠（∞）
l対物レンズ共役距離：無限遠（∞）
l合焦機構：粗微動同軸合焦、粗手車輪検締度調整装置付き。
lインチング格子値：2 um
lステージ：二層機械式ステージ
lステージ外形寸法：180 mm*145 mm
l移動範囲：横35 mm、縦30 mm
l観察サンプルの最大厚さ：130 mm
l微分干渉プラグ：10 X微分干渉プラグ（DICプラグ）は対物レンズと整合し、水平調節ができる。
l光源：ハイライト白色光LEDランプ同軸照明を採用し、輝度調整可能
l電源：交流電圧85 V～265 V 50/60 Hz
lヒューズ管規格：250 V 3.0 A
GMDIC-100微分干渉顕微鏡オプション：
l応力平場消色差対物レンズPL 5 X/0.10作動距離：18.2 mm
l応力平場消色差対物レンズPL 20 X/0.40作動距離：8.0 mm
l平場接眼鏡：15 X（視野数φ11 mm）、20 X（視野数φ11 mm）
l微分干渉プラグ：5 X，20 X対物レンズに適合するDICプラグ
l二次元画像測定ソフトウェアGM-2000 M
l金相分析ソフトウェアGM-JX 2000